Probador de baterías
Puente medidor LCR digital de precisión Analizador de impedancia de componentes de 10 Hz a 1 MHz
Número de artículo : CD10
El precio varía según Especificaciones y personalizaciones
- Rango de frecuencia de prueba
- 10 Hz – 1 MHz (Continuo, resolución de 1 mHz)
- Precisión de medición básica
- 0.05%
- Velocidad máxima de medición
- Hasta 200 med/seg (≥1 kHz)
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Descripción del producto
Este puente medidor LCR digital de precisión es un analizador avanzado de parámetros de materiales y componentes electrónicos diseñado bajo el principio de puente de autoequilibrio. Con un espectro de frecuencia de prueba continuamente ajustable que abarca desde 10 Hz hasta 1 MHz, una precisión de medición base del 0,05 % y una resolución de pantalla de 6,5 dígitos, este sistema ofrece una caracterización de impedancia de grado metrológico. Su arquitectura integra control automático de nivel (ALC), barrido de lista multifrecuencia y clasificación automatizada para garantizar una adquisición de datos completa, repetible y de alta resolución en todos los parámetros pasivos fundamentales.
Diseñado para entornos de alta exigencia, el instrumento sirve como una herramienta analítica central en la investigación de materiales avanzados, perfilado de propiedades dieléctricas, estudios de impedancia de electrodos de baterías y validación de componentes semiconductores. Es igualmente competente en líneas de producción automatizadas y estaciones de control de calidad entrante (IQC), donde el alto rendimiento y la clasificación fiable son primordiales. El sistema cierra la brecha entre la capacidad analítica de precisión de grado de laboratorio y las demandas de fabricación industrial de alta velocidad.
Construido con circuitos de estado sólido de grado industrial de primera calidad, impedancias de fuente de señal conmutables (30 Ω y 100 Ω) y rutinas integrales de calibración de circuito abierto/cortocircuito/carga con corrección de frecuencia de 256 puntos, esta unidad mantiene una estabilidad de medición superior. Incluso en entornos sujetos a ruido electromagnético y deriva térmica operativa, el equipo proporciona resultados estables y reproducibles, lo que lo convierte en un activo esencial para laboratorios de ingeniería y departamentos de control de calidad.
Características clave
- Arquitectura central de puente de autoequilibrio: Ofrece una precisión básica excepcional del 0,05 % y una resolución de medición de 6,5 dígitos en un amplio espectro de impedancia dinámica, garantizando una fidelidad de datos exacta para la investigación y la producción.
- Rango de frecuencia de banda ancha continua: Ofrece una cobertura de frecuencia continua desde 10 Hz hasta 1 MHz con una resolución de 1 mHz y una precisión de frecuencia del 0,01 %, lo que permite el seguimiento de resonancia en pasos finos y el modelado de componentes dependiente de la frecuencia.
- Motor de adquisición de alto rendimiento: Alcanza tasas de adquisición de medición de hasta 200 mediciones por segundo (a frecuencias de prueba ≥1 kHz) y un ciclo rápido de 20 ms (a ≥100 Hz), facilitando una integración perfecta en sistemas de clasificación automatizados de alta velocidad.
- Caracterización integral multiparamétrica: Evalúa simultáneamente 20 combinaciones de parámetros distintos, incluyendo inductancia (Lp, Ls), capacitancia (Cp, Cs), resistencia (Rp, Rs), impedancia (|Z|, Xs), admitancia (|Y|, G, B), ángulos de fase (θr, θd), factor de disipación (D) y factor de calidad (Q).
- Capacidades integradas de doble polarización CC: Cuenta con una fuente de polarización CC programable interna que suministra polarización de voltaje de -2V a +2V y polarización de corriente de -20mA a +20mA, junto con soporte para entradas de polarización CC externas de hasta ±60V para pruebas de semiconductores activos y dieléctricos polarizados.
- Control automático de nivel dinámico (ALC): Regula y estabiliza activamente los voltajes (0 a 2 Vrms) y corrientes (100 μArms a 20 mArms) de la señal de excitación, evitando la sobrecarga del dispositivo bajo prueba (DUT) y manteniendo niveles de excitación constantes.
- Barrido de lista multifrecuencia de 10 puntos: Ejecuta pruebas secuenciales automatizadas a través de 10 pasos definidos por el usuario de frecuencia, voltaje o corriente para capturar rápidamente curvas de respuesta dinámica y propiedades de dispersión de frecuencia.
- Clasificación de 10 contenedores y comparador estadístico: Cuenta con un comparador multicanal incorporado con 8 contenedores de aprobación (pass), 1 contenedor de falla (fail) y 1 contenedor auxiliar, junto con conteo en tiempo real para agilizar la clasificación de calidad y el agrupamiento de componentes.
- Interfaz vívida de 7 pulgadas en dos idiomas: Equipado con una pantalla LCD TFT de 800×480 que admite menús operativos en inglés y chino, ofreciendo lecturas claras de parámetros, gráficos de barras y un control operativo intuitivo.
- Matriz de comunicación industrial completa: Estandarizado con interfaces GPIB, Ethernet LAN, RS232C, USB Host, USB Device y Handler optoaislado para permitir la automatización remota y la integración total con SCADA/PLC.
Aplicaciones
| Aplicación | Descripción | Beneficio clave |
|---|---|---|
| Investigación de materiales avanzados y dieléctricos | Caracterización de la constante dieléctrica, la tangente de pérdida y los espectros de impedancia de nuevas cerámicas, polímeros y electrolitos sólidos. | El amplio rango de barrido de 10 Hz a 1 MHz identifica transiciones de fase, mecanismos de relajación e impedancias de capa límite. |
| Evaluación de baterías y almacenamiento de energía | Evaluación de la resistencia interna (ESR), la impedancia de contacto y la capacitancia interfacial de separadores de baterías y láminas de electrodos. | La estabilidad de baja frecuencia y la resolución de 1 mHz aíslan la resistencia de transferencia de carga interfacial de la conductividad del electrolito a granel. |
| Control de calidad de componentes pasivos de precisión | Pruebas de alta velocidad y clasificación automatizada de condensadores cerámicos multicapa (MLCC), resistencias de precisión y condensadores de película. | La velocidad de adquisición de 200 med/s y el comparador de 10 contenedores maximizan el rendimiento durante la inspección entrante y la clasificación de producción. |
| Perfilado de núcleos magnéticos e inductores | Medición del factor de calidad (Q), inductancia (Ls/Lp) y resistencia de CA a través de corrientes de excitación variables y polarización CC interna. | Las corrientes de polarización CC internas y externas programables permiten el análisis de saturación y permeabilidad en condiciones operativas realistas. |
| Caracterización de semiconductores y sensores | Análisis de impedancia de varactores, diodos, transductores piezoeléctricos y dispositivos MEMS bajo potenciales de polarización CC variables. | El soporte de polarización externa de hasta ±60V permite un perfilado C-V integral y mediciones de capacitancia de polarización inversa. |
| Líneas de producción SMT automatizadas | Pruebas automatizadas en línea y cribado de pasa/no pasa en tiempo real vinculado directamente a manipuladores de recogida y colocación mediante protocolos de bus industrial. | Las interfaces estándar Handler, GPIB y LAN proporcionan señalización inmune al ruido y de sub-milisegundos para la automatización de fábrica. |
Especificaciones técnicas
| Parámetro | Detalles de la especificación |
|---|---|
| Identificador base del producto | CD10 |
| Opciones de modelo variante | CD10-01 (10 Hz – 100 kHz) CD10-02 (10 Hz – 200 kHz) CD10-03 (10 Hz – 300 kHz) CD10-05 (10 Hz – 500 kHz) CD10-10 (10 Hz – 1 MHz) |
| Resolución y precisión de frecuencia | Resolución de 1 mHz, precisión del 0,01 % |
| Precisión básica de medición | 0,05 % |
| Resolución de pantalla | 6½ dígitos (6,5 dígitos) |
| Parámetros de medición | Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Rs-Xs, |Z|-θr, |Z|-θd, |Y|-θr, |Y|-θd, G-B |
| Velocidad de medición (≥100 Hz) | Rápida: 50 med/s (20 ms) Media: 10 med/s (100 ms) Lenta: 1,25 med/s (800 ms) |
| Velocidad de medición personalizada (≥1 kHz) | Programable por el usuario de 0,5 med/s a 200 med/s |
| Rango de visualización de capacitancia (Cp, Cs) | 0,001000 pF a 99,9999 F |
| Rango de visualización de inductancia (Lp, Ls) | 0,001000 nH a 99,9999 kH |
| Rango de resistencia e impedancia (Rp, Rs, |Z|, Xs) | 0,001000 mΩ a 999,999 MΩ |
| Rango de conductancia y admitancia (G, B, |Y|) | 0,001000 μS a 999,999 kS |
| Rango de ángulo de fase (θr / θd) | θr: ±0,000001 rad a 3,14159 rad θd: ±0,000001 deg a 179,9999 deg |
| Rango de disipación (D) y factor de calidad (Q) | D: ±0,000001 a 9,99999 Q: ±0,001 a 99999,9 |
| Rango de voltaje de señal de prueba | 0 a 2,0 Vrms (Resolución: 1 mV, Precisión: 5 % + 5 mV) |
| Rango de corriente de señal de prueba | 100 μArms a 20 mArms (Resolución: 10 μA, Precisión: 5 % + 50 μA) |
| Fuente de polarización CC interna | Voltaje: -2,0 V a +2,0 V Corriente: -20,0 mA a +20,0 mA |
| Entrada de polarización CC externa | -60,0 V a +60,0 V |
| Impedancia de salida de la fuente de señal | Seleccionable 30 Ω o 100 Ω |
| Función de comparador y clasificación | 10 contenedores: 8 contenedores de aprobación, 1 contenedor de falla, 1 contenedor auxiliar con conteo estadístico |
| Operaciones matemáticas | Lectura directa, Delta (diferencia de valor absoluto), Delta% (diferencia porcentual) |
| Calibración y corrección | Autocalibración, circuito abierto, cortocircuito, corrección de carga, 100 puntos de frecuencia de usuario, 256 conjuntos de corrección de frecuencia designados |
| Función de barrido de lista | Barrido de lista multiparamétrico programable de 10 puntos |
| Pantalla | LCD TFT de 7,0 pulgadas (resolución 800 × 480), interfaz en chino/inglés |
| Memoria y almacenamiento de datos | Memoria interna no volátil y soporte de almacenamiento masivo USB |
| Interfaces de control remoto | GPIB, Ethernet (LAN), RS232C, USB Host, USB Device, Handler |
| Requisitos de fuente de alimentación | 220V CA ±10%, 50 Hz |
| Consumo de energía | < 20 W |
| Rango de temperatura de funcionamiento | 0°C a 40°C |
| Dimensiones físicas (An x Pr x Al) | 330 mm × 285 mm × 136 mm |
| Peso neto | 3,6 kg |
¿Por qué elegir este producto?
- Ingeniería de metrología de precisión: Diseñado con un núcleo de puente de autoequilibrio que ofrece una precisión de medición básica del 0,05 % y 6,5 dígitos de resolución, proporcionando una confianza absoluta en datos de grado comercial y de investigación.
- Escalabilidad de frecuencia completa: Disponible en opciones de ancho de banda flexibles desde 100 kHz hasta 1 MHz con una resolución de 1 mHz, lo que permite a las organizaciones seleccionar el rango de frecuencia preciso adaptado a su presupuesto de laboratorio y requisitos de aplicación.
- Preparado para fabricación automatizada: Con velocidades de adquisición que alcanzan las 200 lecturas por segundo, clasificación de hardware de 10 contenedores y conectividad estándar Handler/GPIB, este sistema se integra sin esfuerzo en estaciones de prueba de componentes de alto volumen.
- Control integral de polarización CC y ALC: La polarización interna integrada, la capacidad de polarización externa de 60V y la nivelación dinámica aseguran pruebas estables de semiconductores sensibles, condensadores y componentes inductivos bajo tensiones operativas realistas.
- Soporte confiable a largo plazo: Respaldado por la experiencia técnica de KINTEK en pruebas de materiales e instrumentación de laboratorio, lo que garantiza una guía de aplicación receptiva, soporte de calibración y confiabilidad del hardware a largo plazo.
Comuníquese con nuestro equipo de ingeniería técnica hoy mismo para analizar sus requisitos de prueba, solicitar una cotización detallada o explorar soluciones de accesorios personalizados para su laboratorio.
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